Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.

A. Allgemeine Grundlagen

I. Eigenschaften der Elektronenstrahlung
II. Elektrostatische Sammellinsen
III. Magnetische Sammellinsen
IV. Die Elektronenquelle
V. Elektronenindikatoren
B. Die theoretischen Grundlagen des Elektronenmikroskopes
I. Wirkungsweise
II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen
C. Die theoretischen Grundlagen der Elektronensonden-Mikroskope
I. Wirkungsweise
II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen
D. Elektronenstrahlung und Objekt
I. Die durch Elektronenstreuung im Objekt verursachten Abbildungsfehler und ihr Verhältnis zueinander
II. Die Größe der Objektbelastung
III. Die Empfindlichkeit lebender Substanz gegen Elektronenbestrahlung
E. Wichtige Größen für die Dimensionierung von Elektronenmikroskopen
I. Die Größe und Abschirmung störender Magnetfelder
II. Das Auflösungsvermögen photographischer Schichten für Elektronenstrahlung
III. Das Auflösungsvermögen von Leuchtschirmen für Elektronenstrahlung
IV. Die Abschirmung schädlicher Röntgenstrahlung
F. Bauelemente und Hilfseinrichtungen der Elektronenmikroskope
I. Das Kathodensystem
II. Die kurzbrennweitigen Elektronenlinsen
III. Die Objekthalterungen und Objektschleusen
IV. Kamera und Photomaterialschleuse
V. Blenden und Bohrvorrichtungen für kleinste Blendlöcher
G. Die Vakuumtechnik der Elektronenmikroskope
I. Das erforderliche Vakuum
II. Die Pumpanlage
III. Vakuummessung und Suche nach Undichtigkeiten
IV. Vakuumtechnische Konstruktionselemente
H. Die Hochspannungsanlagen der Elektronenmikroskope
I. Die Messung von Schwankungen der Hochspannung
II. Hochspannungsanlagen großer Spannungskonstanz
J. Die praktische Ausführung des Elektronenmikroskopes
I. Die Dimensionierung
II. Die Gesamtkonstruktion.-III. Das Kondensorsystem
IV. Das Objekt- und Objektivsystem
V. Das Projektionslinsensystem
VI. Die Kamera
VII. Die Scharfstellung
K. Die praktische Ausführung der Elektronensonden-Mikroskope
I. Die Dimensionierung
II. Herstellung der Elektronensonde
III. Herstellung des Objektrasters beim Rastermikroskop
IV. Die Registriereinrichtung der Sondenmikroskope
V. Die Scharfstellung der Sondenmikroskope
L. Objektpräparierungstechnik
I. Die verschiedenen Arten elektronenmikroskopischer Präparate
II. Die Keilschnittmethode zur Herstellung von Mikrotomschnitten mit weniger als 10?3 mm Stärke
III. Objekte auf Folien
IV. Die Verwendung der Strahlungssonden für Mikromanipulationen
M. Die Bestimmung des Auflösungsvermögens
I. Die verschiedenen Methoden
II. Die praktische Durchführung der Bestimmung
N. Stereo-Elektronenmikroskopie
I. Die Grundlagen
II. Verschiedene Anordnungen zur Gewinnung stereoskopischer Teilbilder bei Elektronenmikroskopen
O. Die Ergebnisse der Elektronen-Übermikroskopie auf den verschiedenen Anwendungsgebieten
I. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes auf physikalische, chemische und technische Probleme
II. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes in Biologie und Medizin
P. Namen- und Sachverzeichnis.